Киршина, Татьяна Васильевна. Информационная система анализа и вычисления повторяющихся дефектов в производстве: выпускная квалификационная работа / Т. В. Киршина; Уфимский университет науки и технологий (УУНиТ), Институт информатики, математики и робототехники, Кафедра автоматизированных систем управления; научный руководитель Р. Р. Еникеев ; научный консультант Е. А. Дронь. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 1,50 Мб). — Уфа, 2026. — 62 с. — 09.03.03 Прикладная информатика. Профиль: Информационные и цифровые технологии в корпоративных системах. — Бакалавриат. — Заочная. — <URL:http://elibrary.uust.ru/dl/VKR/2026/Kirshina_TV_Pi-433bzu_09.03.03_02.2026.pdf>. — Текст: электронный
| Период | Чтение | Печать | Копирование | Открытие | Итого |
|---|---|---|---|---|---|
| Последний день | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
| Последние 30 дней | 0 | 0 | 0 | 0 | 0 |
| Последние 365 дней | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 |
| За все время | 1 | 0 | 0 | 0 | 1 |