Details
Киршина, Татьяна Васильевна. Информационная система анализа и вычисления повторяющихся дефектов в производстве: выпускная квалификационная работа / Т. В. Киршина; Уфимский университет науки и технологий (УУНиТ), Институт информатики, математики и робототехники, Кафедра автоматизированных систем управления; научный руководитель Р. Р. Еникеев ; научный консультант Е. А. Дронь. — Электрон. текстовые дан. (1 файл : 1,50 Мб). — Уфа, 2026. — 62 с. — 09.03.03 Прикладная информатика. Профиль: Информационные и цифровые технологии в корпоративных системах. — Бакалавриат. — Заочная. — <URL:http://elibrary.uust.ru/dl/VKR/2026/Kirshina_TV_Pi-433bzu_09.03.03_02.2026.pdf>. — Текст: электронный
Record create date
3/3/2026
Allowed Actions
–
Action 'Read' will be available if you login or access site from another network
| Group | Anonymous |
|---|---|
| Network | Internet |
| Network | User group | Action |
|---|---|---|
| Organization | Readers VIP |
|
| Organization | Readers |
|
| Organization | All |
|
| Internet | Readers VIP |
|
| Internet | Readers |
|
| Internet | All |
|
